HDL-модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов [Текст] / М. Л. Малиновский, Д. А. Аленин, В. И. Барсов, А. В. Сидоренко //
Вісник Харків. нац. техн. ун-ту сіл. госп-ва ім. П. Василенка. Техн. науки. - Харків, 2011. - Вип. 117: Проблеми енергозабезп. та енергозбереження в АПК України. - С. 75-78.. - Библиогр.: с. 78. (Шифр в БД 631.172(06)/В 53-056935)
УДК
631.172(06)
681.5
Рубрики: Україна Украина
Анотація: Предложена HDL-модель модель памяти RAM со встроенной схемой генерации неразрушающих тестов, которая позволяет повысить эффективность проектирования цифровых систем для ответственных приложений. Запропоновано HDL-модель пам'яті RAM з вбудованою схемою генерації неруйнуючих тестів, котра дозволяє підвищити ефективність проектування цифрових систем для відповідальних систем. Додаткові точки доступу: Малиновский, Михаил Леонидович Аленин, Д. А. Барсов, В. И. Сидоренко, А. В.