Физические и компьютерные технологии : материалы 15 Междунар. науч.-техн. конф., г. Харьков, 2-3 дек. 2009 г. - Харьков : ХНПК "ФЭД",
2009. - С.
254-256. - Библиогр.: с. 256.
Ключові слова: микроволновая спектроскопия --
ферромагнитный резонанс --
электронный резонанс --
парамагнитный резонанс --
шероховатость поверхности --
микроволнова спектроскопія --
феромагнітний резонанс --
електронний резонанс --
парамагнітний резонанс --
шорсткість поверхні --
Анотація: В работе теоретически и экспериментально исследуется возможность применения таких методов микроволновой спектроскопии, как ферромагнитный резонанс (ФМР) и электронный парамагнитный резонанс (ЭПР), для оценки шероховатости поверхностей. Додаткові точки доступу: Спольник, Александр Иванович (26.05)Волчок, Ирина Витальевна (26.05)Калиберда, Любовь Мстиславовна (26.05)Чегорян, Михаил Александрович (26.05)Чегорян, Михайло Олександрович